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DM45523 为东京精密轮廓测量设备配套球头小孔替换测针，适配 KT‑32 测臂，CONTOUR、S‑NEX 轮廓系列主机，用于狭小孔腔内部几何采集，不优先用于粗糙度检测。测针采用红宝石球接触结构，...
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产品分类0755-81711158
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DM45091 为东京精密轮廓测量设备配套加长偏置式替换测针，适配 KT‑32 测臂，CONTOUR、S‑NEX 轮廓系列主机，用于深度较大且周边存在结构遮挡位置的轮廓与粗糙度采集。测针接触结构采用金...
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DM45087 为东京精密轮廓测量设备配套偏置式替换测针，适配 KT‑32 测臂，CONTOUR、S‑NEX 轮廓系列主机，用于受结构遮挡的工件位置开展轮廓与粗糙度采集。测针接触结构采用金刚石材质，带...
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DM45085 为东京精密轮廓测量设备配套长行程小孔替换测针，适配 KT‑32 测臂，CONTOUR、S‑NEX 轮廓系列主机，可完成小孔内腔几何轮廓与粗糙度采集。测针接触结构采用金刚石材质，加长悬臂...
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DM45082 为东京精密轮廓测量设备配套小孔测量替换测针，适配 KT‑32 测臂，CONTOUR、S‑NEX 轮廓系列主机，用于小孔内部腔体几何轮廓采集，可兼顾粗糙度检测。测针接触结构采用金刚石材质...
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DM45509 为东京精密轮廓测量设备配套深腔长杆替换测针，适配 KT‑32 测臂，CONTOUR、S‑NEX 轮廓系列主机，用于深度较大的腔体、沉孔内部几何轮廓采集，不优先用于粗糙度检测。测针接触结...
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DM45504 为东京精密轮廓测量设备配套扭曲面专用替换测针，适配 KT‑32 测臂，CONTOUR、S‑NEX 轮廓系列主机，用于扭曲面、螺旋类工件几何轮廓采集，不优先用于粗糙度检测。测针接触结构采...
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DM45506 为东京精密轮廓测量设备配套短款通用替换测针，适配 KT‑32 测臂，CONTOUR、S‑NEX 轮廓系列主机，用于空间受限的浅型腔体、小型工件几何轮廓采集，不优先用于粗糙度检测。测针接...
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DM83531 为东京精密轮廓测量设备配套短 L 型侧向替换测针，适配 E‑DH‑S60A 轮廓检出器，CONTOUR、S‑NEX 轮廓系列主机，用于浅腔内部侧向壁面几何轮廓采集，不优先用于粗糙度检测...
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DM83528 为东京精密轮廓测量设备配套超细长深孔替换测针，适配 E‑DH‑S60A 轮廓检出器，CONTOUR、S‑NEX 轮廓系列主机，用于孔径狭小的超深腔体内部几何轮廓采集，不优先用于粗糙度检...
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