DM45091 为东京精密轮廓测量设备配套加长偏置式替换测针，适配 KT‑32 测臂，CONTOUR、S‑NEX 轮廓系列主机，用于深度较大且周边存在结构遮挡位置的轮廓与粗糙度采集。测针接触结构采用金刚石材质，带 25mm 偏移量加长弯折结构，可绕开周边实体结构干涉。拆装操作简单，信号输出稳定，可采集受遮挡深腔位置的轮廓与粗糙度数据，满足机加工行业常规质检的使用需求。

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