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DM83525 为东京精密轮廓测量设备配套侧向深腔替换测针，适配 E‑DH‑S60A 轮廓检出器，CONTOUR、S‑NEX 轮廓系列主机，用于深度较大腔体内部侧向壁面几何轮廓采集，不优先用于粗糙度检...
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jpg塞规M12P1.25
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产品分类0755-81711158
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DM83522 为东京精密轮廓测量设备配套加长小孔替换测针，适配 E‑DH‑S60A 轮廓检出器，CONTOUR、S‑NEX 轮廓系列主机，用于孔径偏小同时深度偏大的孔腔内部几何轮廓采集，不优先用于粗...
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DM83502 为东京精密轮廓测量设备配套大行程通用替换测针，适配 E‑DH‑S60A 轮廓检出器、CONTOUR、S‑NEX 轮廓系列主机，主打大行程、大落差工件几何轮廓采集，不优先用于粗糙度检测。...
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DM45524 为东京精密轮廓测量设备配套深小孔专用替换测针，适配 KT‑32 测臂，CONTOUR、S‑NEX 轮廓系列主机，针对开口狭小的深孔、沉孔内腔开展几何轮廓采集，不优先用于粗糙度检测。测针...
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DM45507 为东京精密轮廓测量设备配套棱线检测专用替换测针，适配 KT‑32 测臂，CONTOUR、S‑NEX 轮廓系列主机，针对工件棱边、刃口轮廓几何采集，不优先用于粗糙度检测。测针接触结构采用...
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DM45504 为东京精密轮廓测量设备配套扭曲面专用替换测针，适配 KT‑32 测臂，CONTOUR、S‑NEX 轮廓系列主机，专门用于扭曲面、螺旋类工件几何轮廓采集，不优先用于粗糙度检测。测针接触结...
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DM45501 为东京精密轮廓测量设备配套通用单片角轮廓测针，适配 KT‑32 测臂，CONTOUR、S‑NEX 轮廓系列主机，面向常规工件几何轮廓采集，不优先用于粗糙度检测。测针接触结构采用金刚石材...
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DM83514 为东京精密轮廓测量设备配套 L 型加长侧向替换测针，适配 E‑DH‑S60A 轮廓检出器，CONTOUR、S‑NEX 轮廓系列主机，针对深度腔体内部侧向壁面开展几何轮廓采集，不优先用于...
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DM83512 为东京精密轮廓测量设备配套长工件专用高刚性替换测针，适配 E‑DH‑S60A 轮廓检出器，CONTOUR、S‑NEX 轮廓系列主机，面向长尺寸、大纵深工件几何轮廓采集，不优先用于粗糙度...
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DM83520 为东京精密轮廓测量设备配套超深腔替换测针，适配 E‑DH‑S60A 轮廓检出器，CONTOUR、S‑NEX 轮廓系列主机，面向深度极大的腔体、沉孔轮廓几何采集，不优先用于粗糙度检测。测...
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