DM45523 为东京精密轮廓测量设备配套球头小孔替换测针，适配 KT‑32 测臂，CONTOUR、S‑NEX 轮廓系列主机，用于狭小孔腔内部几何采集，不优先用于粗糙度检测。测针采用红宝石球接触结构，细长杆体，适合开口偏小的孔内检测工况。拆装操作简单，信号输出稳定，可采集小孔内部台阶、孔底、孔内过渡圆弧轮廓数据，满足机加工行业常规质检的使用需求。

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