DM45523 为东京精密轮廓测量设备配套球头小孔替换测针，适配 KT‑32 测臂，CONTOUR、S‑NEX 轮廓系列主机，用于狭小孔腔内部几何采集，不优先用于粗糙度检测。测针采用红宝石球接触结构，细长杆体，适合开口偏小的孔内检测工况。拆装操作简单，信号输出稳定，可采集小孔内部台阶、孔底、孔内过渡圆弧轮廓数据，满足机加工行业常规质检的使用需求。

DM45091 为东京精密轮廓测量设备配套加长偏置式替换测针，适配 KT‑32 测臂，CONTOUR、S‑NEX 轮廓系列主机，用于深度较大且周边存在结构遮挡位置的轮廓与粗糙度采集。测针接触结构采用金刚石材质，带 25mm 偏移量加长弯折结构，可绕开周边实体结构干涉。拆装操作简单，信号输出稳定，可采集受遮挡深腔位置的轮廓与粗糙度数据，满足机加工行业常规质检的使用需求。

DM45087 为东京精密轮廓测量设备配套偏置式替换测针，适配 KT‑32 测臂，CONTOUR、S‑NEX 轮廓系列主机，用于受结构遮挡的工件位置开展轮廓与粗糙度采集。测针接触结构采用金刚石材质，带 25mm 偏移量弯折结构，可避开工件本体结构干扰。拆装操作简单，信号输出稳定，可采集避让空间受限位置的轮廓与粗糙度数据，满足机加工行业常规质检的使用需求。

DM45085 为东京精密轮廓测量设备配套长行程小孔替换测针，适配 KT‑32 测臂，CONTOUR、S‑NEX 轮廓系列主机，可完成小孔内腔几何轮廓与粗糙度采集。测针接触结构采用金刚石材质，加长悬臂杆体，适配深度偏大的小孔内部检测。拆装操作简单，信号输出稳定，可采集深小孔内部台阶、孔底、孔内过渡圆弧的轮廓与粗糙度数据，满足机加工行业常规质检的使用需求。

DM45082 为东京精密轮廓测量设备配套小孔测量替换测针，适配 KT‑32 测臂，CONTOUR、S‑NEX 轮廓系列主机，用于小孔内部腔体几何轮廓采集，可兼顾粗糙度检测。测针接触结构采用金刚石材质，悬臂式杆体，适合孔径偏小的内部空间检测。拆装操作简单，信号输出稳定，可采集小孔内部台阶、孔底、孔内过渡圆弧轮廓与表面粗糙度数据，满足机加工行业常规质检的使用需求。