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东京精密粗糙度仪测针

产品简介

DM45504 为东京精密轮廓测量设备配套扭曲面专用替换测针，适配 KT‑32 测臂，CONTOUR、S‑NEX 轮廓系列主机，专门用于扭曲面、螺旋类工件几何轮廓采集，不优先用于粗糙度检测。测针接触结构采用金刚石材质，特殊偏置结构，适配扭曲面扫描轨迹。拆装操作简单，信号输出稳定，可稳定采集螺旋槽、扭曲斜面、螺旋类零件轮廓数据，满足机加工行业常规质检的使用需求。

Name: 东京精密粗糙度仪测针DM45504
Brand: ACCRETECH/东京精密
Availability: InStock

产品型号：DM45504

更新时间：2026-08-10

厂商性质：代理商

访问量：10

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产品分类

东京精密

测针

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品牌	ACCRETECH/东京精密	产地类别	进口
应用领域	综合

DM45504 是 ACCRETECH 东京精密推出的轮廓专用测针，属于轮廓测量设备损耗配件，广泛用于机械加工、齿轮制造、模具制造、汽车零部件等行业，完成螺旋槽、扭曲斜面、螺旋类零件的轮廓数据采集工作。

日常工业检测过程里，部分工件表面呈扭曲、螺旋形态，普通直型测针容易发生干涉，无法跟随扭曲表面完成完整扫描。DM45504 采用偏置式测针结构，测尖做偏移处理，能够适配扭曲面、螺旋槽的扫描轨迹，规避侧壁干涉，完成扭曲型工件轮廓采集，既适合工厂产线大批量检测，也可用于实验室抽样检测工作。该型号以几何轮廓测量为主，选型时需要区分使用场景，不适合做高精度粗糙度参数采集。

整套测针分为接触检测部位与支撑杆体两个部分，整体结构设计合理，运行状态稳定。接触检测部位选用金刚石材质，该材质耐磨属性较好，在长时间、大批量的反复检测作业当中，接触面损耗速度较慢，可以维持相对统一的接触条件，减少检测数据上下浮动的情况，降低因配件磨损带来的数据偏差，保障设备可以持续开展检测作业。

测针杆体采用合金材质，带有偏置结构，相较标准直测针，侧向受力工况更多，抗撞击能力偏弱。在合理的检测行程之下，杆体不容易发生弯曲变形，能够稳定维持既定的行进轨迹，保证每次检测的运动路径保持一致，让采集得到的轮廓数据保持稳定，规避杆体形变带来的各类检测异常。使用时需要严格管控各轴运动范围，规避撞击损坏测针。

产品采用模块化分体替换结构，拆装步骤简单，不需要拆解测臂主体，操作人员就可以独立完成更换工作。更换结束之后，利用标准轮廓样块完成基础校验，就可以开展正式检测，减少设备停机等待的时间，提升整体作业效率，适配产线高频次的检测工况。装配时需要核对 KT‑32 测臂接口规格，确认与主机匹配，避免错装带来的信号异常。

该测针适配 KT‑32 测臂，对应 CONTOUR、S‑NEX 轮廓检测机型。企业做配件采购和库存管理时，需要核对设备型号，避免配件错配。设备运行时，配合主机完成高度、角度、螺旋槽轮廓、台阶差值等常见轮廓参数的采集与运算，满足工业质检的数据记录、留存的要求。

测针属于消耗配件，经过大量使用之后，接触位置会出现正常损耗。当检测数据持续出现偏移，经过多次校准也无法恢复正常，就需要更换新的测针。实际使用时，合理控制检测行程，防止磕碰、挤压测针；闲置存放时放置在配套保护盒中，能够拉长产品使用周期，维持检测工作的稳定。

规格参数数据表

产品型号：DM45504

产品类型：扭曲面专用轮廓可替换检测测针

接触部位材质：金刚石

杆体材质：合金材质

接触部位锥角：12°

接触部位曲率半径：25μm（R0.025mm）

总长度：34mm

杆体外径：3.0mm

单支产品重量：0.41g

包装规格：1 支 / 套

适配测臂：KT‑32

适配主机机型：CONTOUR 系列、S‑NEX 轮廓检测机型

适用检测场景：扭曲斜面、螺旋槽、螺旋类零件轮廓常规检测

产品产地：日本

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