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东京精密粗糙度仪测针

产品简介

DM83502 为东京精密轮廓测量设备配套大行程通用替换测针,适配 E‑DH‑S60A 轮廓检出器、CONTOUR、S‑NEX 轮廓系列主机,主打大行程、大落差工件几何轮廓采集,不优先用于粗糙度检测。测针采用金刚石接触材质,标准锥头搭配加长刚性杆体,行程覆盖范围广,适用性较好。拆装便捷、信号输出稳定,可采集大落差台阶、长沟槽、大尺寸过渡曲面轮廓数据,满足各类机加工质检需求。

产品型号:DM83502
更新时间:2026-08-10
厂商性质:代理商
访问量:12
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品牌ACCRETECH/东京精密产地类别进口
应用领域综合
DM83502 是 ACCRETECH 东京精密推出的通用性加长轮廓专用测针,属于轮廓测量核心损耗配件,广泛应用于机械加工、模具制造、汽车零部件、五金液压配件等行业,完成大尺寸工件、大高差台阶、长距离沟槽、大面积过渡曲面的轮廓数据采集工作。
在日常工业质检工作中,多数大中型工件轮廓扫描行程较长,标准短款测针行程不足,无法完成完整轮廓扫描,频繁更换测针会影响检测效率。DM83502 优化杆体长度与刚性配比,在保证结构不易形变的前提下,提升扫描行程,可一次性完成大纵深工件的完整轮廓采集,适配量产流水线批量检测与实验室抽检场景。该型号专注几何轮廓测量,不适用高精度粗糙度参数检测工况,选型时需区分使用场景。
测针整体由金刚石检测触头与合金支撑杆体组成,结构稳固、运行稳定。核心接触部位采用天然金刚石材质,硬度高、耐磨性较好,长期反复高频次检测作业中,触头损耗较低,可保持统一的接触精度,减少数据偏差、降低检测误差,保障设备长期稳定作业。
合金杆体经过刚性强化处理,加长设计的同时保有较好的抗形变性能,常规往复扫描行程中不会出现弯曲、抖动等问题,扫描轨迹较为精准统一,保障每一次轮廓采集的数据稳定性。因杆体行程更长、作业覆盖范围更大,使用时需管控设备轴域运动范围,避免碰撞、磕碰造成测针损坏。
产品采用模块化分体式设计,拆装流程简单便捷,无需拆解检出器主体,操作人员可独立快速完成更换。更换完成后,通过标准轮廓样块校准即可投入正式检测,缩短设备停机时间,提升生产线检测效率,适配高频次、大批量的工业质检工况。
该测针适配 E‑DH‑S60A 全系轮廓检出器,兼容 CONTOUR、S‑NEX 全系列轮廓检测设备。采购与库存管理时可核对设备型号,避免配件错配。设备作业时,可完成高度、角度、圆弧半径、台阶差值、曲面落差等各类常规轮廓参数的采集与运算,符合工业质检的数据记录、存档与验收标准。
测针属于损耗配件,长期高频使用后触头会产生正常轻微磨损。若出现检测数据偏移、校准无法复位的情况,需及时更换新测针,保障检测精度。日常使用需规范控制检测行程,避免挤压、撞击;闲置时收纳于专用保护盒,可延长使用寿命,维持检测稳定性。

规格参数数据表

产品型号:DM83502
产品类型:大行程通用轮廓专用可替换检测测针
接触部位材质:金刚石
杆体材质:合金材质
接触部位锥角:12°
接触部位曲率半径:25μm
有效伸入深度:16mm
单支产品重量:0.60g
包装规格:1 支 / 套
适配检出器:E‑DH‑S60A 等轮廓系列检出器
适配主机机型:CONTOUR 系列、S‑NEX 轮廓检测机型
适用检测场景:大落差台阶、长尺寸沟槽、大行程曲面、大中型工件常规轮廓检测
产品产地:日本


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