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当前位置：首页产品中心东京精密测针DM83514东京精密粗糙度仪测针

东京精密粗糙度仪测针

产品简介

DM83514 为东京精密轮廓测量设备配套 L 型加长侧向替换测针，适配 E‑DH‑S60A 轮廓检出器，CONTOUR、S‑NEX 轮廓系列主机，针对深度腔体内部侧向壁面开展几何轮廓采集，不优先用于粗糙度检测。测针接触结构采用金刚石材质，L 型加长侧向弯折结构，可伸入深度较大孔槽采集侧向内壁。拆装操作简单，信号输出稳定，可稳定获取深腔内部孔侧壁、深槽侧向面轮廓数据，满足机加工行业常规质检的使用需

产品型号：DM83514
更新时间：2026-08-10
厂商性质：代理商
访问量：33
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品牌ACCRETECH/东京精密产地类别进口
应用领域综合
DM83514 是 ACCRETECH 东京精密推出的轮廓专用测针，属于轮廓测量设备损耗配件，广泛用于机械加工、模具制造、汽车零部件、液压配件等行业，用于深孔侧壁、深度较大内部沟槽侧向位置的轮廓数据采集工作。
日常工业检测过程里，部分工件腔体深度大，普通短臂 L 型测针伸入深度不足，无法到达腔体深处的侧向待测壁面。DM83514 采用加长 L 型侧向弯折结构，测尖横向朝向，臂体加长，能够深入孔槽腔体，完成深处侧壁扫描采集，解决普通侧向测针深度不足的难题，既适合工厂产线大批量检测，也可用于实验室抽样检测工作。该型号以几何轮廓测量为主，选型时需要区分使用场景，不适合做高精度粗糙度参数采集。
整套测针分为接触检测部位、侧向弯折段与加长支撑杆体，整体结构设计合理，运行状态稳定。接触检测部位选用金刚石材质，该材质耐磨属性较好，在长时间、大批量的反复检测作业当中，接触面损耗速度较慢，可以维持相对统一的接触条件，减少检测数据上下浮动的情况，降低因配件磨损带来的数据偏差，保障设备可以持续开展检测作业。
测针杆体采用合金材质，侧向弯折加长样式，受力方向区别于直杆测针，侧向抗冲击能力偏弱。在合理的检测行程之下，杆体不容易发生弯曲变形，能够稳定维持既定的行进轨迹，保证每次检测的运动路径保持一致，让采集得到的轮廓数据保持稳定，规避杆体形变带来的各类检测异常。加长侧向臂对碰撞敏感，使用时需要严格管控各轴运动范围，规避撞击损坏测针。
产品采用模块化分体替换结构，拆装步骤简单，不需要拆解检出器主体，操作人员就可以独立完成更换工作。更换结束之后，利用标准轮廓样块完成基础校验，就可以开展正式检测，减少设备停机等待的时间，提升整体作业效率，适配产线高频次的检测工况。装配时需要核对轮廓检出器接口规格，确认与主机匹配，避免错装带来的信号异常。
该测针适配 E‑DH‑S60A 等轮廓系列检出器，对应 CONTOUR、S‑NEX 轮廓检测机型。企业做配件采购和库存管理时，需要核对设备型号，避免配件错配。设备运行时，配合主机完成高度、角度、圆弧半径、台阶差值等常见轮廓参数的采集与运算，满足工业质检的数据记录、留存的要求。
测针属于消耗配件，经过大量使用之后，接触位置会出现正常损耗。当检测数据持续出现偏移，经过多次校准也无法恢复正常，就需要更换新的测针。实际使用时，合理控制检测行程，防止磕碰、挤压测针；闲置存放时放置在配套保护盒中，能够拉长产品使用周期，维持检测工作的稳定。

规格参数数据表

产品型号：DM83514
产品类型：加长 L 型侧向轮廓专用可替换检测测针
接触部位材质：金刚石
杆体材质：合金材质
接触部位锥角：12°
接触部位曲率半径：25μm
有效伸入深度：21mm
单支产品重量：0.69g
包装规格：1 支 / 套
适配检出器：E‑DH‑S60A 等轮廓系列检出器
适配主机机型：CONTOUR 系列、S‑NEX 轮廓检测机型
适用检测场景：大深度深孔侧壁、深沟槽侧向位置的轮廓常规检测
产品产地：日本


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