DM83519 为东京精密轮廓测量设备配套细径深孔替换测针,适配 E‑DH‑S60A 轮廓检出器,CONTOUR、S‑NEX 轮廓系列主机,针对孔径有限的深孔腔体做几何轮廓采集,不优先用于粗糙度检测。...
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jpg塞规M12P1.25
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产品分类0755-81711158
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DM83518 为东京精密轮廓测量设备配套加长 L 型侧向替换测针,适配 E‑DH‑S60A 轮廓检出器,CONTOUR、S‑NEX 轮廓系列主机,用于深度较大腔体内部侧向壁面几何轮廓采集,不优先用于...
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DM83517 为东京精密轮廓测量设备配套 L 型侧向替换测针,适配 E‑DH‑S60A 轮廓检出器,CONTOUR、S‑NEX 轮廓系列主机,主打侧向内壁几何轮廓采集,不优先用于粗糙度检测。测针接触...
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DM83521 为东京精密轮廓测量设备配套小孔专用高刚性测臂,适配 E‑DH‑S60A 轮廓检出器,CONTOUR、S‑NEX 轮廓系列主机,主要针对小孔内部轮廓几何采集,不优先用于粗糙度检测。测针接...
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DM83501 为东京精密轮廓测量设备配套替换式测针,适配 E‑DH‑S60A 轮廓检出器,CONTOUR、S‑NEX 轮廓系列主机,专注几何轮廓采集,不优先用于粗糙度检测。测针接触结构采用金刚石材质...
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DM48774 为东京精密测量设备配套替换式测针,适配 S‑CREST、S5000、S3000、S‑NEX 系列主机,兼顾粗糙度与轮廓检测,采用刀刃形金刚石测尖结构,适合狭窄沟槽、微小台阶的测量工况。...
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DM48515 为东京精密测量设备配套替换式测针,适配 S‑CREST、S5000、S3000、S‑NEX 系列主机,兼顾粗糙度与轮廓检测,专门用于齿轮齿面检测工况。测针接触结构采用金刚石材质,测尖做...
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DM48514 为东京精密测量设备配套替换式测针,适配 S‑CREST、S5000、S3000、S‑NEX 系列主机,兼顾粗糙度与轮廓检测,针对孔径更小的微孔检测工况。测针接触结构采用金刚石材质,杆体...
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DM48513 为东京精密测量设备配套替换式测针,适配 S‑CREST、S5000、S3000、S‑NEX 系列主机,兼顾粗糙度与轮廓检测,专门针对孔径较小的内孔检测工况。测针接触结构采用金刚石材质,...
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DM48742 为东京精密测量设备配套 L 型侧向替换测针,适配 S‑CREST、S5000、S3000、S‑NEX 系列主机,兼顾粗糙度与轮廓检测。测针接触结构采用金刚石材质,采用短臂侧向弯折结构,...
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