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  • DM45504东京精密粗糙度仪测针

    DM45504 为东京精密轮廓测量设备配套扭曲面专用替换测针,适配 KT‑32 测臂,CONTOUR、S‑NEX 轮廓系列主机,专门用于扭曲面、螺旋类工件几何轮廓采集,不优先用于粗糙度检测。测针接触结构采用金刚石材质,特殊偏置结构,适配扭曲面扫描轨迹。拆装操作简单,信号输出稳定,可稳定采集螺旋槽、扭曲斜面、螺旋类零件轮廓数据,满足机加工行业常规质检的使用需求。

    更新时间:2026-08-10
    产品型号:DM45504
    浏览量:189
  • DM45501东京精密粗糙度仪测针

    DM45501 为东京精密轮廓测量设备配套通用单片角轮廓测针,适配 KT‑32 测臂,CONTOUR、S‑NEX 轮廓系列主机,面向常规工件几何轮廓采集,不优先用于粗糙度检测。测针接触结构采用金刚石材质,12° 单片角样式,通用性强,适配台阶、沟槽、孔口圆弧等常规轮廓扫描。拆装操作简单,信号输出稳定,可稳定采集常规工件台阶、沟槽、孔口过渡曲面轮廓数据,满足机加工行业常规质检的使用需求。

    更新时间:2026-08-10
    产品型号:DM45501
    浏览量:165
  • DM83514东京精密粗糙度仪测针

    DM83514 为东京精密轮廓测量设备配套 L 型加长侧向替换测针,适配 E‑DH‑S60A 轮廓检出器,CONTOUR、S‑NEX 轮廓系列主机,针对深度腔体内部侧向壁面开展几何轮廓采集,不优先用于粗糙度检测。测针接触结构采用金刚石材质,L 型加长侧向弯折结构,可伸入深度较大孔槽采集侧向内壁。拆装操作简单,信号输出稳定,可稳定获取深腔内部孔侧壁、深槽侧向面轮廓数据,满足机加工行业常规质检的使用需

    更新时间:2026-08-10
    产品型号:DM83514
    浏览量:191
  • DM83512东京精密粗糙度仪测针

    DM83512 为东京精密轮廓测量设备配套长工件专用高刚性替换测针,适配 E‑DH‑S60A 轮廓检出器,CONTOUR、S‑NEX 轮廓系列主机,面向长尺寸、大纵深工件几何轮廓采集,不优先用于粗糙度检测。测针接触结构采用金刚石材质,加长高刚性杆体,适配长行程扫描工况。拆装操作简单,信号输出稳定,可稳定采集长工件台阶、大落差曲面、长沟槽轮廓数据,满足机加工行业常规质检的使用需求。

    更新时间:2026-08-10
    产品型号:DM83512
    浏览量:158
  • DM83520东京精密粗糙度仪测针

    DM83520 为东京精密轮廓测量设备配套超深腔替换测针,适配 E‑DH‑S60A 轮廓检出器,CONTOUR、S‑NEX 轮廓系列主机,面向深度极大的腔体、沉孔轮廓几何采集,不优先用于粗糙度检测。测针接触结构采用金刚石材质,杆体大幅加长,可抵达深度大的腔体底部。拆装操作简单,信号输出稳定,可稳定获取超深腔内部台阶、孔底、过渡圆弧轮廓数据,满足机加工行业常规质检的使用需求。

    更新时间:2026-08-10
    产品型号:DM83520
    浏览量:118
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