DM83525 为东京精密轮廓测量设备配套侧向深腔替换测针，适配 E‑DH‑S60A 轮廓检出器，CONTOUR、S‑NEX 轮廓系列主机，用于深度较大腔体内部侧向壁面几何轮廓采集，不优先用于粗糙度检测。测针接触结构采用金刚石材质，长距离 L 型弯折结构，可探入深腔采集侧向内壁。拆装操作简单，信号输出稳定，可采集深孔侧壁、深槽侧向位置轮廓数据，满足机加工行业常规质检的使用需求。

DM83522 为东京精密轮廓测量设备配套加长小孔替换测针，适配 E‑DH‑S60A 轮廓检出器，CONTOUR、S‑NEX 轮廓系列主机，用于孔径偏小同时深度偏大的孔腔内部几何轮廓采集，不优先用于粗糙度检测。测针接触结构采用金刚石材质，臂体做加长收窄处理，适配深小孔内部空间。拆装操作简单，信号输出稳定，可采集深小孔内部台阶、孔底、孔内过渡圆弧轮廓数据，满足机加工行业常规质检的使用需求。

DM83502 为东京精密轮廓测量设备配套大行程通用替换测针，适配 E‑DH‑S60A 轮廓检出器、CONTOUR、S‑NEX 轮廓系列主机，主打大行程、大落差工件几何轮廓采集，不优先用于粗糙度检测。测针采用金刚石接触材质，标准锥头搭配加长刚性杆体，行程覆盖范围广，适用性较好。拆装便捷、信号输出稳定，可采集大落差台阶、长沟槽、大尺寸过渡曲面轮廓数据，满足各类机加工质检需求。

DM45524 为东京精密轮廓测量设备配套深小孔专用替换测针，适配 KT‑32 测臂，CONTOUR、S‑NEX 轮廓系列主机，针对开口狭小的深孔、沉孔内腔开展几何轮廓采集，不优先用于粗糙度检测。测针接触结构采用金刚石材质，细长收径杆体，可进入孔径有限的深孔内部。拆装操作简单，信号输出稳定，可稳定采集深孔内部台阶、孔底、孔内过渡圆弧轮廓数据，满足机加工行业常规质检的使用需求。

DM45507 为东京精密轮廓测量设备配套棱线检测专用替换测针，适配 KT‑32 测臂，CONTOUR、S‑NEX 轮廓系列主机，针对工件棱边、刃口轮廓几何采集，不优先用于粗糙度检测。测针接触结构采用金刚石材质，加长杆体结构，适配棱线、刃口扫描路径。拆装操作简单，信号输出稳定，可稳定采集工件棱边、刃口、薄壁边缘位置轮廓数据，满足机加工行业常规质检的使用需求。