DM45509 为东京精密轮廓测量设备配套深腔长杆替换测针，适配 KT‑32 测臂，CONTOUR、S‑NEX 轮廓系列主机，用于深度较大的腔体、沉孔内部几何轮廓采集，不优先用于粗糙度检测。测针接触结构采用金刚石材质，加长型杆体，适配大深度内腔检测。拆装操作简单，信号输出稳定，可采集深腔内部台阶、孔底、孔内过渡圆弧轮廓数据，满足机加工行业常规质检的使用需求。

DM45504 为东京精密轮廓测量设备配套扭曲面专用替换测针，适配 KT‑32 测臂，CONTOUR、S‑NEX 轮廓系列主机，用于扭曲面、螺旋类工件几何轮廓采集，不优先用于粗糙度检测。测针接触结构采用金刚石材质，带偏置结构，适配扭曲面扫描轨迹。拆装操作简单，信号输出稳定，可采集螺旋槽、扭曲斜面、螺旋类零件轮廓数据，满足机加工行业常规质检的使用需求。

DM45506 为东京精密轮廓测量设备配套短款通用替换测针，适配 KT‑32 测臂，CONTOUR、S‑NEX 轮廓系列主机，用于空间受限的浅型腔体、小型工件几何轮廓采集，不优先用于粗糙度检测。测针接触结构采用金刚石材质，短杆紧凑结构，适合狭小空间检测。拆装操作简单，信号输出稳定，可采集小型工件台阶、浅沟槽、浅孔过渡圆弧轮廓数据，满足机加工行业常规质检的使用需求

DM83531 为东京精密轮廓测量设备配套短 L 型侧向替换测针，适配 E‑DH‑S60A 轮廓检出器，CONTOUR、S‑NEX 轮廓系列主机，用于浅腔内部侧向壁面几何轮廓采集，不优先用于粗糙度检测。测针接触结构采用金刚石材质，短臂 L 型弯折结构，适配腔体深度不大的侧向检测场景。拆装操作简单，信号输出稳定，可采集浅孔侧壁、浅沟槽侧向位置轮廓数据，满足机加工行业常规质检的使用需求。

DM83528 为东京精密轮廓测量设备配套超细长深孔替换测针，适配 E‑DH‑S60A 轮廓检出器，CONTOUR、S‑NEX 轮廓系列主机，用于孔径狭小的超深腔体内部几何轮廓采集，不优先用于粗糙度检测。测针接触结构采用金刚石材质，细径加长杆体，可进入孔径小、深度大的孔腔内部。拆装操作简单，信号输出稳定，可采集深孔内部台阶、孔底、孔内过渡圆弧轮廓数据，满足机加工行业常规质检的使用需求。