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详细介绍
日本TECLOCK得乐指针测厚薄仪|SM-1201得乐测厚规
特点：
得乐测厚规适用范围：用于纺织布料、薄膜、纸张等物品的厚度测量。
TECLOCK得乐测厚仪原理：在一定的面积与一定荷重下，测量出的物件厚度.指针式测厚规可以作为物品检测时的基础测量。
得乐SM-1201测厚规技术参数：
1. 指式方式：指针式
2. 测量范围：0-10mm
3. zui小读数：0.001mm
4. 测量深度：120mm
5. 体积大小：(W*D*H)87*23*105mm
6. 重量：200g
性能参数：
型号 | 目量 (mm) | 测量范围(mm) | 精度(um) | 测定力（N） | 测定子形状(mm) | 重量 (g) |
SM-1201 | 0.001 | 10 | 3 | 1.5以下 | 直径8.5平（超硬） | 440 |
SM-1201LS | 0.001 | 10 | 3 | 1.5以下 | 直径3球状（超硬） | 440 |
SM-1201LW | 0.001 | 10 | 3 | 1.5以下 | 直径3球状（超硬） | --- |
公司：深圳市瑞都测量仪器设备有限公司
：黄女士（）
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