E‑DH‑S60A 为东京精密轮廓测量设备配套检出器组件，适配 CONTOUR、SURFCOM 系列轮廓检测主机，可搭配多款轮廓专用替换测针完成几何形状采集作业。整体结构紧凑，测针拆装流程简单，信号输出稳定，可完成工件台阶、圆弧、沟槽、孔口轮廓采集，满足机加工行业常规质检的使用需求。

DM42001 为东京精密轮廓测量设备配套替换式测针，适配多款轮廓检测主机。测针接触结构采用金刚石材质，耐磨表现良好，杆体结构经过优化，适合轮廓、台阶以及沟槽部位检测。拆装操作简单，设备适配范围广，可稳定采集工件轮廓数据，满足机加工行业常规质检的使用需求。

0102567 为东京精密粗糙度仪配套替换式测针，适配 E‑DT‑SH01A 检出器以及 SURFCOM 系列多款检测主机。测针接触结构采用金刚石材质，耐磨表现良好，杆体经过针对性结构设计，适配小力值检测工况。拆装操作简单，可稳定采集工件表面轮廓数据，满足机加工行业常规质检的使用需求。

E‑DT‑SH01A 为东京精密粗糙度仪配套检出器组件，适配 SURFCOM 系列多款检测主机，可搭配专用替换测针完成表面采集作业。整体结构紧凑，测针拆装流程简单，信号输出稳定，可完成工件平面、沟槽、内孔位置的粗糙度与轮廓采集，满足机加工行业常规质检的使用需求。

E‑DT‑S08A 为东京精密粗糙度仪配套检出器组件，适配 SURFCOM 系列多款检测主机，可搭配多款可更换测针完成表面采集作业。整体结构紧凑，测针拆装流程简单，信号输出稳定，可完成工件平面、沟槽、内孔位置的粗糙度与轮廓采集，满足机加工行业常规质检的使用需求。