DM83519 为东京精密轮廓测量设备配套细径深孔替换测针，适配 E‑DH‑S60A 轮廓检出器，CONTOUR、S‑NEX 轮廓系列主机，针对孔径有限的深孔腔体做几何轮廓采集，不优先用于粗糙度检测。测针接触结构采用金刚石材质，杆体细径加长设计，可进入孔径偏小、深度较大的孔腔内部。拆装操作简单，信号输出稳定，可稳定采集深孔内部台阶、孔底、过渡圆弧轮廓数据，满足机加工行业常规质检的使用需求。

DM83518 为东京精密轮廓测量设备配套加长 L 型侧向替换测针，适配 E‑DH‑S60A 轮廓检出器，CONTOUR、S‑NEX 轮廓系列主机，用于深度较大腔体内部侧向壁面几何轮廓采集，不优先用于粗糙度检测。测针接触结构采用金刚石材质，L 型加长臂结构，可伸入深度大的孔槽内部扫描侧向内壁。拆装操作简单，信号输出稳定，可稳定采集深腔内部孔侧壁、深槽侧向面轮廓数据，满足机加工行业常规质检的使用需求

DM83517 为东京精密轮廓测量设备配套 L 型侧向替换测针，适配 E‑DH‑S60A 轮廓检出器，CONTOUR、S‑NEX 轮廓系列主机，主打侧向内壁几何轮廓采集，不优先用于粗糙度检测。测针接触结构采用金刚石材质，测尖侧向 90° 弯折，专门用于孔内壁、内部倒扣侧向面测量。拆装操作简单，信号输出稳定，可稳定采集工件内孔侧壁、倒扣台阶、内部沟槽侧向轮廓数据，满足机加工行业常规质检的使用需求。

DM83521 为东京精密轮廓测量设备配套小孔专用高刚性测臂，适配 E‑DH‑S60A 轮廓检出器，CONTOUR、S‑NEX 轮廓系列主机，主要针对小孔内部轮廓几何采集，不优先用于粗糙度检测。测针接触结构采用金刚石材质，整体缩短设计，适配狭小孔径内部空间。拆装操作简单，信号输出稳定，可稳定采集小孔内部台阶、孔底、孔口过渡曲面轮廓数据，满足机加工行业常规质检的使用需求

DM83501 为东京精密轮廓测量设备配套替换式测针，适配 E‑DH‑S60A 轮廓检出器，CONTOUR、S‑NEX 轮廓系列主机，专注几何轮廓采集，不优先用于粗糙度检测。测针接触结构采用金刚石材质，标准杆体规格，通用性强，适合台阶、沟槽、圆弧等常规轮廓测量。拆装操作简单，信号输出稳定，可稳定采集工件台阶、沟槽、孔口过渡曲面轮廓数据，满足机加工行业常规质检的使用需求。