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影响三丰数显电子卡尺测量结果的误差因素

更新时间:2023-02-15      点击次数:676
   三丰数显电子卡尺是测量工件平面及平行特征或内/外径的常用“利器”。但遇到测量复杂形状的工件时,如曲面或狭窄的沟槽等,标准的通用量具可能就难以到达准确的测量位置,选择专用的非标量具则相对更简便、更经济。要正确使用卡尺还有很多的注意事项,我们就从影响测量结果的误差因素讲起。
 
  误差因素
 
  在使用卡尺测量时,存在着多种引起误差的因素,如视差、结构不符合阿贝原理引起的误差、卡尺和工件之间的温度差异引起的热膨胀影响等等。
 
  除此以外,因卡尺无定压装置,测量时,适合的,均匀的测力难以把握,也是产生误差的又一因素。
 
  卡尺的结构不符合阿贝原理
 
  卡尺的读数轴和测量轴因不同轴而不符合阿贝原理,所以在使用卡尺时,用量爪的根部或顶端进行测量,会存在加大测量误差的危险。测量时需注意被测工件尽可能地接近尺身部分(读数轴)。
 
  读取刻度的视差
 
  当检查游标刻度线是否与主要刻度分线对齐时,直视游标刻度线。
 
  游标尺与主尺刻度面之间存在着阶差高度,这容易引起读数误差。如下图所示,如果从斜方向观察游标刻度线,会产生图中ΔX所示误差。为了避免这种因素的影响,JIS规格中规定阶差高度(H)不应大于0.3mm。
 
  

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