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三丰数显电子卡尺的基本检验及测量方式解析

2020-08-18 浏览次数:71

   三丰数显电子卡尺的测量方式可根据零点设定方法不同分为绝对测量和相对测量:
  1.绝对测量:设定绝对零点后进行的测量;
  2.相对测量:设定相对零点后进行的测量。
  数显电子卡尺相对零点设定用等于被测量工件标准尺寸的量块(或其它标准件)夹在卡尺两外量面间,在保持一定压力(等于测量力)同时清零(如此便消除了数显卡尺原来在该尺寸的示值误差)。相对测量时,只显示被测工件尺寸与标准尺寸的差值,测量结果更准确。
  数显电子卡尺检验项目和检验方法,对判断数显卡尺质量优劣适用:
  1.外观
  无锈斑、碰伤、毛刺,边角倒钝(手感无刺激),外形整齐,外观清洁;无剩磁(量爪端不吸引小铁件如大头针、别针);
  2.量面
  外量面(测量轴直径用)粗糙度Ra0.2(其它量面Ra0.4),边缘无毛刺(手指摸),合拢不透光;量爪尖端平齐,无碰伤弯勾(目力观察);
  3.显示
  启动电源,数字显示清楚完整(不缺笔划),各按键功能正常;
  4.侧向间隙
  尺框槽与尺身宽度方向的配合间隙,此间隙越小越好(应接近零)。此项要求比较重要。检验时面对显示屏并使尺头朝上,使两外量面张开约20mm,右手抓尺身头部,左手抓尺框外量爪并用力左右推拉,靠近耳听应无撞击声;或目力观察尺框槽与尺身基面(靠近外量爪的尺身窄侧面)接触处,应无目力所见之间隙变化。
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